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Z.综合性图书
《中国图书馆分类法》以科学分类为基础,结合图书的内容和特点,分门别类组成的分类表,共二十二个大类。用
汉语拼音字母与阿拉伯数字
相结合的混合制号码:拼音字母用来表示二十二个大类,以字母顺序反映大类顺序。在字母后用数字表示大类下类目的划分。简单地说,这些由
汉语拼音字母
与
阿拉伯数字
所组
成的号码就叫
“分类号”。
例如
"家庭教育"的分类号是 G78 。
下级
分类说明
TG115.2/ 物理试验法
TG115.21/ 金相分析(显徽分析)
TG115.21+1.2/ 磨片、试样制备
TG115.21+1.3/ 金相组织显示方法
TG115.21+1/ 金相分析试验技术
TG115.21+3.1/ 晶粒大小的测定
TG115.21+3.2/ 铸铁中石墨、球墨的测定
TG115.21+3.3/ 非金属夹杂物的测定
TG115.21+3.4/ 脱碳层的测定
TG115.21+3.5/ 化学热处理渗入厚度测定
TG115.21+3.9/ 其他分析内容
TG115.21+3/ 金相显微分析
TG115.21+5.1/ 光学显微镜(相差、偏光)
TG115.21+5.2/ 非常温显微镜
TG115.21+5.3/ 电子显微镜
TG115.21+5.4/ X射线显微镜
TG115.21+5.5/ 离子显微镜
TG115.21+5.6/ 超声显微镜
TG115.21+5.7/ 微区分析仪
TG115.21+5.9/ 其他显微分析仪器
TG115.21+5/ 金相分析装置与仪器
TG115.22/ X射线分析-分析
TG115.22+1.2/ 样品制备
TG115.22+1.3/ 照相技术
TG115.22+1.4/ X射线线谱分析
TG115.22+1.5/ X射线结构分析
TG115.22+1/ X射线分析技术
TG115.22+2.1/ 晶粒测定
TG115.22+2.2/ 应力测定
TG115.22+2.3/ 相图分析、物相分析
TG115.22+2.4/ 织构测定
TG115.22+2/ X射线分析应用
TG115.22+3/ 漫散射
TG115.22+5.1/ X射线自动记录仪
TG115.22+5.2/ X射线发生、控制装置
TG115.22+5.3/ 单色器
TG115.22+5.4/ 细聚焦
TG115.22+5/ X射线分析设备与仪器
TG115.23/ 射线衍射分析
TG115.24/ 内耗分析
TG115.25/ 热分析
TG115.26/ 电分析
TG115.27/ 磁性分析
TG115.27+1/ 热磁分析、磁各向异性
TG115.27+2/ 磁分析设备与仪器
TG115.28/ 无损探伤
TG115.28+1/ X射线探伤
TG115.28+2/ Υ射线探伤
TG115.28+3/ 荧光探伤
TG115.28+4/ 磁探伤
TG115.28+5/ 超声波探伤
TG115.28+6/ 同位素探伤
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